Мандель, А. Е. Метрология в оптических телекоммуникационных системах : Учебное пособие

Шклярова, Е. И. Обработка результатов многократных измерений. Проверка соответствия экспериментального распределения нормальному (гауссову) распределению по статистическому критерию Пирсона (хи-квадрат) : Методические указания по выполнению лабораторной работы

Лепявко, А. П. Потенциометрический метод анализа : Конспект лекций

Оценка неопределенности аналитических измерений : Учебно-методическое пособие

Шклярова, Е. И. Метрология, стандартизация и сертификация : Сборник вопросов и задач. Методические рекомендации

Кононогов, С. А. Научно-методические основы 3D-метрии шероховатости поверхности : Учебное пособие