Сергеев, А. Г. Нанометрология : Монография

Пономарев, С. В. Применение математических основ метрологии при оптимизации режимных параметров методов и основных конструкционных размеров устройств для измерения теплофизических свойств веществ : Монография

Ермаков, А. С. Современные технологии контроля и измерений : Учебно-практическое пособие

Основы метрологии, стандартизации, сертификации и контроля качества в строительстве : Лабораторный практикум

Шклярова, Е. И. Обработка многократных измерений при малом числе наблюдений с использованием таблиц Стъюдента : Методические рекомендации

Планирование и организация эксперимента : Методические указания к выполнению курсовой работы для студентов бакалавриата, обучающихся по направлению подготовки 27.03.01 Стандартизация и метрология