Рентгеноспектральные методы исследования материалов на основе синхротронного излучения : Учебное пособие

 

QR-код документа

Оценок: 0

95819

Авторизуйтесь для получения дополнительных услуг

Похожие издания по классификации

Толмачев, В. В. Основы квантовой механики : Учебное пособие
Зализняк, В. Е. Основы вычислительной физики. Ч.2. Введение в методы частиц
Едчик, И. А. Основы физики ядерных реакторов
Зализняк, В. Е. Основы вычислительной физики. Ч.1. Введение в конечно-разностные методы
Лоскутов, А. Ю. Основы теории сложных систем